OSI王子計測-超高相位差測量裝置 返回列表頁

一、全系列機型分類（按使用場景：臺式實驗室 / 長尺離線 / 產線在線 / 超高相位專用）

1、臺式實驗室機型（小樣品、研發抽檢）

① KOBRA-WI 經濟型桌面機

• 定位：入門質檢、來料抽檢、小玻璃 / 小片膜

• 波長：標配 590nm，可選 450/550/630/750nm 五波段

• 量程：0～20000nm，重復精度≤±1nm；取向角 0~90°、分辨率 0.001°

• 光斑：5.8mm 方形，單點 3~5s 出數據

• 樣品：≥30mm 方形、厚度≤3mm

• 適用：TAC、PI、小尺寸偏光片、光學玻璃來料檢驗

② KOBRA-WR 標準臺式

• 升級：支持0°~±40° 變入射角測試（Rth 厚度方向相位差）

• 多波長 6 段：450/500/550/590/630/680nm

• 軟件 KOBRA-DSP：自動多點 Mapping、數據 CSV 導出、QC 報表生成

③ KOBRA-HB 三代旗艦（三配置可選）

1. HB 標準版：常規多波長相位 + 取向角，通用研發

2. HBPR 橢圓偏振款：新增橢偏測試，測膜厚、折射率、鍍膜晶圓

3. HBSPC 全光譜款：400~800nm 連續分光，測相位波長色散（新材料研發）

• 精度：低相位重復性≤0.03nm（3σ），可測＜5nm 超低雙折射 OLED 基材

2、長尺卷材離線機型（長條 / 整卷切片連續掃描）

KOBRA-WX 系列（WX50/WX100/WX150）

• WX50：最大被測幅寬 50mm；WX100：100mm；WX150：150mm

• 線性滑軌自動走料，樣品長度無限制，沿長度連續掃描相位分布、應力波動

• WX-IR 紅外定制：850~1100nm 紅外光源，紅外光學薄膜專用

KOBRA-WFD0 全自動送料機型

• 電動自動進給臺，寬 50mm 卷材自動送料連續檢測，批量無人測試

• 6 波段 LED 光源，壽命 2 萬小時免維護，膜材出廠全檢主力機型

3、產線在線式（薄膜擠出 / 拉伸產線實時監控）

KOBRA-WIS / KOBRA-RT 在線相位計

• 分體結構：測量頭 + 控制柜，測頭裝在擠出機 / 拉伸機機架，走膜速度 0~10m/s 在線實時檢測

• 非接觸在線連續測整幅幅寬相位均勻度，實時聯動擠出工藝參數修正

• 可選多波長、紅外版本，BOPET/COP 光學膜產線標配在線設備

4、超高相位專用：PAM-UHR100

• 量程800~20000nm 超高相位，適配高拉伸 PET/PC/PMMA 厚板材

• 解決高相位樣品常規儀器溢出跳數痛點，車用光學基材專用

二、統一核心技術參數

1. 測量項目：面內相位差 Re、慢軸方位角、Rth 厚相位、雙折射 Δn（輸入厚度自動換算）

2. 波長標配：450/500/550/590/630/680/750nm；SPC 全光譜 400~800nm；IR 紅外 850~1100nm

3. 相位量程：1nm～20000nm，全覆蓋：超低 PI 膜 (＜10nm)→液晶盒 / 高相位補償膜 (＞5000nm)

4. 光斑：φ0.8mm（微區）/5.8mm 方形（大面積平均）雙模式切換

三、主流應用行業

1. 顯示行業：LCD/OLED 偏光片、TAC 補償膜、PI 離型膜、圓偏膜相位管控；

2. 光學薄膜：BOPET、COP、PC 光學基材、汽車隔熱膜、AR 增透膜；

3. 光學元件：液晶盒、波片、光學玻璃、晶圓鍍膜；

4. 高分子科研：拉伸取向、材料內應力、雙折射物性研發。