原子力顯微鏡（AFM）技術參數：

1、 掃描器掃描范圍：125μm×125μm×5μm

10μm×10μm×2.5μm

2、噪聲水平：≤0.3Å（高水平）

3、分辨率：0.2nm，可持續穩定得到原子級分辨率

4、掃描方式：采用樣品掃描方式獲得高分辨掃描譜

圖，探針保持位置恒定。

原子力顯微鏡（AFM）應用領域：

　　主要應用于高分子、陶瓷、金屬材料、礦物的顯微結構和納米結構的觀測；粉末、微球顆粒形狀、尺寸及粒徑分布的觀測，以及材料的形貌、相分布、機械性能等的測試。

公司合作的大型儀器設備主要有頂端的透射電鏡（包括球差電鏡、FEI廠家的Tecnai G²F20、Tecnai G² F30），美國和德國的場發射掃描電子顯微鏡、美國賽默飛的光電子能譜儀（XPS  ESCALAB250Xi），法國的拉曼（LabRAM HR Evolution），麥克儀器公司的物理吸附吸附儀、化學吸附儀，粉末X射線衍射儀（D-MAX 2500/PC）等二十余臺大型設備，服務對象主要有青島、武漢、西安、上海、北京、哈爾濱等各大城市的高校及研究所，面向全國各地。