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內容聲明：
您訪問的掃描電鏡（SEM）產品信息，由青島欣飛檢測有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于掃描電鏡（SEM）型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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產品簡介
掃描電鏡（SEM）產品參數
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場發射 |
掃描電鏡（SEM）詳細信息
掃描電鏡（SEM）技術參數：
1、分辨率1.0 nmat 15 kV；1.7 nm at 1 kV；4.0 nmat 0.1 kV
2、加速電壓0.1-30kV
3、放大倍數12-900000
4、探測電流4pA-20nA
5、電子槍：熱場發射
掃描電鏡（SEM）應用范圍：
用于觀察樣品的表面形態、斷口形貌、磨損表面形貌、納米結構材料形態、生物樣品形貌等；結構分析、成分分析。廣泛用于材料學、機械學、微電子學、生物學、醫學等領域。
公司合作的大型儀器設備主要有頂端的透射電鏡（包括球差電鏡、FEI廠家的Tecnai G2F20、Tecnai G2 F30），美國和德國的場發射掃描電子顯微鏡、美國賽默飛的光電子能譜儀（XPS ESCALAB250Xi），法國的拉曼（LabRAM HR Evolution），麥克儀器公司的物理吸附吸附儀、化學吸附儀，粉末X射線衍射儀（D-MAX 2500/PC）等二十余臺大型設備，服務對象主要有青島、武漢、西安、上海、北京、哈爾濱等各大城市的高校及研究所，面向全國各地。
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