SPM-8100FM 日本SHIMADZU 高分辨調頻式掃描探針顯微鏡

日本SHIMADZU 高分辨調頻式掃描探針顯微鏡

基礎核心參數

1. 工作原理：FM 調頻原子力探測方式，捕捉探針與樣品間作用力變化，轉化獲得表面三維形貌與各類微區物理信號；設備存儲掃描方案，導出圖像數據用于材料機理工藝復盤。

2. 型號：SPM-8100FM

3. 核心技術：FM-AFM 調頻非接觸檢測模式

4. 運行環境：大氣環境、液相溶液環境均可開展高分辨觀測

5. 機械結構：滑動式 SPM 機頭，換樣保持激光光路穩定

6. 掃描單元：HT 壓電掃描器，支持大范圍快速掃描成像

7. 拓展功能：可搭載 KPFM 開爾文探針力顯微、微區電流檢測、磁力力顯微等模式

8. 特色能力：實現固液界面水化層、溶劑化層微觀結構原位觀測

9. 控制系統：雙屏操作終端，多通道信號實時監測與同步采集

10. 使用環境：恒溫減震實驗室區間，濕度無凝露，新材料、催化、生物界面科研表征工位

日本SHIMADZU 高分辨調頻式掃描探針顯微鏡

核心功能特點

1. 創新 FM 調頻檢測方案，有效抑制大氣與液體環境噪聲，在常壓、液相條件獲得接近真空型設備的超高成像分辨率。

2. 滑動式機頭機構優勢顯著，樣品更換后無需重新調校激光光路，縮短批次樣品切換耗時，提升實驗效率。

3. HT 高性能掃描器兼顧觀測視野與掃描速率，大范圍粗掃定位后可直接切換小區域高分辨精細成像。

4. 支持固液界面原位觀測，能夠捕捉傳統 AFM 難以觀測的界面液體分層結構，適合電化學、生物界面課題研究。

5. 模塊化功能拓展體系，按需增加表面電勢、微區導電、磁力成像模塊，一臺設備實現多維度物性同步表征。

6. ZXY 三維立體掃描采集功能，可獲取三維空間作用力分布，適合凹凸形貌復合材料、多孔電極樣品測試。

7. 雙屏可視化操控系統，實時同步觀測光學視野與探針掃描信號，便于快速定位目標觀測區域。

8. 光學同軸落射照明系統，精準觀察探針位置與樣品表面，防止探針撞擊損傷試樣與針尖。

9. 配套專業圖像分析軟件，支持形貌重構、粗糙度統計、電勢分布、三維數據解析與結果導出。

10. 完整材料科研質控臺賬留存，原始掃描圖像可回溯，催化機理研究、電極界面分析、薄膜性能表征驗收項目可直接調取管控記錄。

適用場景

1. 新能源行業：固態電池電極、各類儲能材料微觀形貌、界面電荷分布原位表征。

2. 催化研發工位：貴金屬催化劑、氧化物載體納米顆粒觀測，表面電勢差異成像分析。

3. 高分子材料領域：聚合物薄膜、自組裝膜、凝膠材料表面微觀結構研究。

4. 生物界面研究：生物大分子、細胞膜、水合生物試樣液相環境原位高分辨觀測。

5. 半導體行業：外延薄膜、二維材料表面缺陷、微觀電學特性掃描表征。

6. 高校科研平臺：界面化學、納米摩擦學、膠體與固液相互作用基礎課題研究。

7. 新材料研發中心與表面分析實驗室，大氣液相配套高分辨調頻原子力表征設備。