Genesis XM系列X射線能譜儀(EDX)已廣泛應用于國內外各種型號的掃描電鏡和透射電鏡，并且可以同EDAX公司的OIM（電子背散射衍射取向成像分析系統）和ACT（自動晶體學分析系統）構成一體化分析系統。

Genesis XM系列X射線能譜儀(EDX)技術參數：
1.探頭分辨率優于129eV，峰背比優于20000:1 
2.檢測元素范圍Be4 - Es99 
3.大計數率500,000cps 
4.大圖象采集分辨率8192x6400象素（矩形）；8192x8192像素（方形） 
5.大面分布圖采集分辨率2048x1600象素（矩形）；2048x2048（方形）

主要特點：
1.探頭指標高，性能好，壽命長。 
2.全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高。 
3.具有操作引導的集成式界面，使用直觀方便。 
4.具有多種專有技術軟件，分析精度高。 
5.軟件種類及功能豐富，且具有報告生成系統。