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產品簡介
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,電子/電池,電氣,綜合 |
單點開爾文探針-材料表征
單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。
單點開爾文探針-材料表征
主要特點：
● 功函分辨率< 3meV
● 手動高度調節
應用領域：
● 有機和非有機半導體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件：
● 大氣光子發射系統
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環境箱
關聯品牌
自2000年以來，KP科技一直服務于科學界，并已發展成為開爾文探針系統供應商。成立的目的是為市場帶來新的表面研究工具，我們提供一個頻譜用于功函數和能級測量的專用開爾文探針系統。我們的系統已專門開發的應用在各種環境，范圍從環境和受控大氣到超高真空。最近的發展包括雙模開爾文探針和光電發射光譜系統的測量一種物質在空氣中因光發射而作的絕對功函數。開爾文探頭系統提供的量程，以及功函數分辨率的準確性我們的系統所提供的是任何其他開爾文探針供應商無法超越的。強大的研發團隊，加上數十年的材料經驗研究和表征支持了KP技術經歷的快速增長多年來。我們現在為全球數百家公司和研究機構提供服務...
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您訪問的單點開爾文探針-材料表征產品信息，由科睿設備有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于單點開爾文探針-材料表征型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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